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xrf元素分析儀的原理

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發(fā)表于 2025-6-20 16:29:13 | 只看該作者 |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
XRF(X射線熒光)元素分析儀的工作原理基于X射線熒光光譜技術(shù)。該儀器由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次射線),激發(fā)被測樣品。樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線,且不同元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集的信息轉(zhuǎn)換成樣品中的各種元素的種類及含量。利用X射線熒光原理,理論上可以測量元素周期表中的每一種元素。XRF分析儀具有快速、非接觸、非破壞性及多元素分析等特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于地質(zhì)勘探、環(huán)境保護(hù)、材料科學(xué)、冶金工業(yè)等領(lǐng)域。
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    發(fā)表于 2025-11-12 05:38:29 | 只看該作者
    感謝大家的討論,讓我收獲良多。
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    發(fā)表于 昨天 23:15 | 只看該作者
    這個(gè)帖子讓我受益匪淺,謝謝分享!
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