光學(xué)輪廓儀的功能

米勒儀表

光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式測量儀器，具有多種重要功能：  
表面粗糙度測量  
可精確測量各種材料表面的粗糙度參數(shù)，如Ra（算術(shù)平均粗糙度）、Rz（輪廓最大高度）等，能夠快速獲取微觀不平整度信息。  
形貌測量  
能夠?qū)ξ矬w表面的三維形貌進(jìn)行重構(gòu)和測量，可精確測量物體的尺寸、形狀以及表面的微觀結(jié)構(gòu)，如臺(tái)階的高度、斜坡角度、溝槽的深度和寬度、焊縫的寬度和高度等。  
薄膜厚度測量  
可用于測量透明或半透明薄膜的厚度，如半導(dǎo)體制造中的薄膜沉積層、光學(xué)鍍膜以及其他需要精確控制薄膜厚度的領(lǐng)域。  
缺陷檢測  
能夠檢測物體表面的缺陷，劃如痕、裂紋、孔洞、凹坑等，通過對表面形貌的詳細(xì)分析，幫助用戶快速識(shí)別和定位缺陷位置，確定缺陷的尺寸和深度。  
輪廓分析  
可對物體的邊緣輪廓進(jìn)行分析，測量物體的邊界形狀、邊緣角度、圓角半徑等參數(shù)，對于機(jī)械加工、電子制造等領(lǐng)域中的零件形狀控制具有重要意義。  
微觀結(jié)構(gòu)分析  
能觀察夠和分析材料表面的微觀結(jié)構(gòu)，如晶粒尺寸、相界面、晶體取向等，為材料科學(xué)研究提供重要的微觀結(jié)構(gòu)信息。

勞資蜀道山

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