檢定標(biāo)尺分度值（e）：檢定標(biāo)尺分度值是用于天平校準(zhǔn)和檢定時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)值。它與天平的計(jì)量性能有關(guān)，特別是在確定天平的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性方面。檢定標(biāo)尺分度值通常不小于也不超過實(shí)際標(biāo)尺分度值的10倍，即遵循 d ≤ e ≤ 10d 的規(guī)則。
當(dāng) d = e 時(shí)，天平的檢定標(biāo)尺分度值等于它的實(shí)際標(biāo)尺分度值，這通常發(fā)生在沒有輔助裝置的天平上。
當(dāng) e ≠ d 時(shí)，即 e > d，這通常發(fā)生在有輔助裝置的天平上，如電子天平。在這種情況下，檢定標(biāo)尺分度值可以是實(shí)際標(biāo)尺分度值的幾倍，以便在檢定時(shí)提供更嚴(yán)格的技術(shù)指標(biāo)。
檢定標(biāo)尺分度值的選擇取決于生產(chǎn)廠根據(jù)檢定規(guī)程的規(guī)則選定，通常檢定標(biāo)尺分度值會采用 1×10^k, 2×10^k 或者 5×10^k 的形式，其中 k 是一個(gè)整數(shù)。