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標(biāo)題: 測(cè)量薄膜厚度的方法 [打印本頁]

作者: manwu1211 時(shí)間: 2024-12-3 16:32
標(biāo)題: 測(cè)量薄膜厚度的方法
測(cè)量薄膜厚度的方法主要包括直接測(cè)量和間接測(cè)量?jī)纱箢?。直接測(cè)量方法通過接觸或光學(xué)手段直接感應(yīng)薄膜的厚度，常見的方法有螺旋測(cè)微法、精密輪廓掃描法（臺(tái)階法）和掃描電子顯微法（SEM）。這些方法可以直接獲得薄膜的形狀厚度。
間接測(cè)量方法則通過測(cè)量相關(guān)的物理量，并經(jīng)過計(jì)算轉(zhuǎn)化為薄膜的厚度。常見的間接測(cè)量方法包括稱量法、電學(xué)法和光學(xué)法。稱量法通過測(cè)量薄膜的質(zhì)量和面積來計(jì)算厚度；電學(xué)法利用薄膜的電學(xué)特性，如電容或電阻，來推算厚度；光學(xué)法則利用光的干涉或散射等現(xiàn)象來測(cè)量厚度。
選擇合適的測(cè)量方法取決于薄膜的特性和應(yīng)用場(chǎng)景。直接測(cè)量方法通常適用于較厚的薄膜，而間接測(cè)量方法更適合超薄薄膜的測(cè)量。

作者: 九月十二日 時(shí)間: 2024-12-4 16:33
學(xué)習(xí)了，很有啟發(fā)性，感謝樓主的分享。

作者: 設(shè)備儀器 時(shí)間: 2024-12-5 00:22
好貼，已經(jīng)收藏！感謝分享。

作者: 2833 時(shí)間: 2025-10-28 06:49
這個(gè)問題很有深度，大家都來發(fā)表一下自己的見解吧。

作者: 體力-1 時(shí)間: 7 天前
這個(gè)思路沒毛病，給了我很大的啟示。

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